热脱附仪进样垫引起的分析空白杂峰

热解析仪进样垫引起的分析空白杂峰可能是由于以下原因引起的：

1. 进样垫污染：进样垫可能会受到样品中高沸点组分或热不稳定组分的污染，导致出现杂峰。为了解决这个问题，可以更换进样垫或对其进行清洗和老化。

2. 进样垫残留物：进样垫中可能会残留先前进样的样品，导致出现杂峰。为了解决这个问题，可以定期清洗和更换进样垫。

3. 进样垫碎片：进样垫可能在使用过程中被切割或撕裂，导致出现杂峰。为了解决这个问题，可以检查进样垫是否完好无损，并定期更换进样垫。

4. 热解析仪漏气：热脱附仪的进样口或传输线可能存在漏气现象，导致出现杂峰。为了解决这个问题，可以检查热脱附仪的密封性能并修复漏气部位。

5. 样品中高沸点组分或热不稳定组分在热脱附过程中未完全挥发，导致出现杂峰。为了解决这个问题，可以优化热脱附条件，提高样品中高沸点组分或热不稳定组分的挥发效率。

总之，针对热脱附仪进样垫引起的分析空白杂峰问题，需要仔细检查进样垫、热脱附仪和样品本身，并采取相应的措施进行解决。